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晶圆级可靠性

WLR0010

高温带电可靠性测试系统


晶圆级可靠性测试系统 WLR0010 是针对半导体晶圆级器性的高温带电可靠性测试系统产品根据JEDEC 标准可实现对器件的栅氧化层可靠性进行快速测试,同时多模式、高并行测试数量大大降低了测试周期和成本。





特点

  • 支持高压测试

    高达3500V
  • 高并测数

    高达768DUTs
  • 多通道测量

    实现不同测试模式的自动切换和自由组合

  • 支持晶圆级、封装级的测试

    平台统一
  • 支持JEDEC器件可靠性测试标准


  • 支持On-the-fly测试

    和数据分析软件
  • 支持不同封装器件

    通过更换Board和晶圆探针卡即可
  • 温度和电应力可调

功能



技术指标

测试项

TDDB/HCI/NBTI/EM

并测数

系统

768 DUTsMax

单板

32 DUTs(Max

单板源

30 Source

电压

±(20V~3500V)

电压精度

±20V

0.2%RD±5mV

±200V

0.2%RD±50mV

±2000 V

0.2%RD±200mV

±3500 V

0.2%RD±300mV

电压分辨率

10 μV

电流精度

10mA~100mA

0.2%RD±500μA

1mA~10mA

0.2%RD±50μA

100μA~1mA

0.2%RD±500nA

10μA~100μA

0.2%RD±50nA

1μA~10μA

0.2%RD±5nA

100nA~1μA

0.2%RD±500pA

10nA~100nA

0.2%RD±50pA

1nA~10nA

0.2%RD±5pA

10pA~1nA

0.2%RD±200fA

电流分辨率

10 fA

温度范围

(RT+10)+200 (TDDB/HCI/NBTI)
(RT+10
)+350 (EM)

其他

Support  On-the-fly Test

Support Vth Scan:0~200V

Support Vramp Test

Over Voltage/Current monitor

 

精度测量条件:温度 23±5度,湿度35%-60%,系统运行时间1小时,积分时间为LONG1nA以下)

电压源/表指标

电压精度

量程

分辨率

精度(1)

±(%读数+偏置)

典型噪声(有效值)

 0.1 Hz-10Hz

高压源

±3500 V

40 mV

0.02%+600 mV

50 mV

±1500 V

20 mV

0.02%+300 mV

25 mV

±600 V

7mV

0.02%+120 mV

10 mV

低压源

±200 V

100 μV

0.02% + 40 mV

1mV

±20 V

10 μV

0.02% + 5 mV

200μV

±6 V

1 μV

0.02% + 500 μV

60μV

温度系数

±(0.15 × 精度指标)/°C (0℃-18℃,28℃-50℃)

设置时间

<±1% (典型值, Normal,步进是范围 10% 90%,满量程点,电阻性负载测试)

过冲

<±0.1%(典型值,满量程点,电阻性负载测试)

 

电流源/表指标

电流精度

量程

分辨率

精度(1 )

±(%读数+偏置)

典型噪声(有效值)

0.1 Hz-10Hz

±15 mA

10 nA

0.02% +2 μA

±15 mA

±1.5 mA

1 nA

0.2% + 150 nA

±1.5 mA

±150 μA

100 pA

0.2% + 20 nA

±150 μA

±15 μA

10 pA

0.2% +3 nA

±15 μA

±1.5 μA

1 pA

0.3% + 600 pA

±1.5 μA

±150 nA

100fA

0.5% + 300 pA

±150 nA

±10 nA

10 fA

0.5% + 5 pA

1 pA

温度系数

±(0.15×精度指标)/°C(0℃-18℃28℃-50℃)

设置时间

<±1% (典型值,Normal,步进是范围的10%90%)

过冲

<±0.1%(典型值,满量程点,电阻性负载测试)



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