联讯仪器 CoC老化系统BI6201-苏州联讯仪器股份有限公司

激光器老化

BI6201

CoC老化系统

联讯仪器 BI6201 老化测试系统是高密度、多功能、专门针对半导体激光器芯片老化寿命验证的测试系统。

系统采用主框架和大单层的结构，通过集成多通道驱动电源、温度控制器、实时的数据采集功能，以及标准化的抽屉和灵活的夹具配置显著降低了系统成本。

定制化的测试夹具，适合不同尺寸的CoC（Chip on Carrier）、CoS（Chip on Submount）以及TO-Can等各种封装类型的半导体激光器、不同的器件类型，只需要更换不同抽屉（或者测试夹具）。BI6201的驱动电路具有出色的保护网络，不会有电流或电压的过冲产生，从设计上消除了潜在的EOS风险，而且可以设置电流和电压的门限，当输出值超过阈值的时候系统能关闭异常的通道增强对被测芯片的保护。除了将保护功能设计在控制电路内，通道间绝缘（Isolation）性能与静电（ESD）保护也在系统设计的考量之中。

手册CN

手册EN

申请样机

特点

SMU驱动电源
支持最高4224路4象限SMU驱动电源
支持LIV/EA扫描
在线功率监测，支持完整的 LIV、EA扫描
具备分析能力
具备Ith、DCER分析能力，测试重复性偏差＜1%
最大单系统
单系统最大支持4224pcs同时老化，可根据要求及系统能力扩展

功能与优势

特殊的温度控制结构，具有极佳的导热特性
CoC、CoS 抽屉及夹具
支持自动电流控制、自动功率控制，安全可靠
带在线监测功率的 CoC、CoS 抽屉及夹具（支持 LIV 扫描及功率测量）

系统指标	芯片封装类型	CoC/CoS或者TO-CAN各种类型
	夹具类型	标准支持48pcs CoC鱼骨型测试夹具其他不同类型可以定制化开发
	系统容量	11层；44个抽屉，标准系统支持88个CoC鱼骨型夹具，总计支持4224个通道
	氮气保护	可以集成氮气保护功能选件
	供电	AC 380V, 50/60Hz 32A
	气压	0.4-0.6Mpa
	重量	<1000kg
	尺寸	98411022030mm

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