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激光器老化

BI6201

BI6201老化测试系统是高密度、多功能、专门针对半导体激光器芯片老化寿命验证的测试系统。

特点

  • SMU驱动电源

    支持最高4224路4象限SMU驱动电源
  • 支持LIV/EA扫描

    在线功率监测,支持完整的 LIV、EA扫描
  • 具备分析能力

    具备Ith、DCER分析能力,测试重复性偏差<1%
  • 最大单系统

    单系统最大支持4224pcs同时老化,可根据要求及系统能力扩展

功能与优势


  • 特殊的温度控制结构,具有极佳的导热特性

    CoC、CoS 抽屉及夹具
  • 支持自动电流控制、自动功率控制,安全可靠

    带在线监测功率的 CoC、CoS 抽屉及夹具(支持 LIV 扫描及功率测量)


系统指标

芯片封装类型

CoC/CoS或者TO-CAN各种类型

夹具类型

标准支持48pcs CoC鱼骨型测试夹具其他不同类型可以定制化开发

系统容量

11层;44个抽屉,标准系统支持88个CoC鱼骨型夹具,总计支持4224个通道

氮气保护

可以集成氮气保护功能选件

供电

AC380V, 50/60Hz 32A

气压

0.4-0.6Mpa

重量

<1000Kg

尺寸

984*1102*2030mm


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