特点
兼容性好
与BI6206高功率激光老化系统共用一块测试板;测试效率高
支持批量输入输出重复性好
光学测量重复性高;支持工业低温
可选择低温-40℃测试;功能与优势
系统功能与优势
四工位串行测试增加测试效率系统参数 | 芯片类型 | 所有高功率CoC/CoS激光器 |
夹具类型 | 兼容BI6206老化系统夹具 | |
上下夹具 | 自动上下夹具 | |
夹具ID扫描识别 | 自动夹具Barcode扫描识别 | |
并行测试 | CoC夹具双侧面并行测试 | |
标准样品控制 | 软件支持标准样品管控功能。如果标准样品在本机台测试超过时间周期(可配置),系统自动告警 | |
测试机台控制 | 软件支持测试机台管控功能,如果相同夹具在老化前后分别在不同的测试机台进行测试,软件会自动产生告警提示。 | |
测试配置管控 | 软件支持测试配置管控,包括测试仪表,测试算法,测试序列,测试结果判断等。 | |
测试数据 | 支持用户要求的所有测试数据/支持MES相关的需求 | |
电学指标 | SMU类型 | 标准精密源表 |
直流电流 | 3A | |
I/V 源分辨率 | 500nA/100mV | |
I/V 测量分辨率 | 500nA/100mV | |
电压范围 | 70V | |
脉冲电流 | 10A | |
EOS | 无EOS(任何正常操作和使用条件下) | |
光学指标 | 光功率测量探测器类型 | InGaAs |
光功率波长范围 | 1200-1700nm(可扩展到700~1700nm) | |
光功率测量范围 | 5mW-5000W | |
光功率测量精度 | <0.2dB | |
光谱测量范围 | 集成横河AQ6360 或其它光谱仪 | |
光谱测量精度 | ||
光功率耦合效率 | 耦合功率>-15dBm | |
温度控制指标 | 温度控制方法 | TEC+水冷系统 |
温度区域 | 4个独立的温度控制区域 | |
温度范围 | 25-100℃ | |
温度变化速度(升温/降温) | 8℃/分 | |
温度分辨率 | 0.1℃ | |
温度精度 | <±0.5℃ | |
温度一致性 | <±0.5℃ | |
温度稳定性 | <±0.1℃ | |
测试参数 | Ith重复性 | ±1% |
功率重复性 | ±2% | |
SE 重复性 | ±2% | |
VF 重复性 | ±3% | |
波长重复性 | <±0.1nm | |
SMSR 重复性 | <2.5dB |
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