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探测器老化和测试

TO6201-PD

TO6201-PD 是专门针对APD TO-CAN封装器件常温和高温性能的测试机。

特点

  • 兼容常规

    兼容常规TO-CAN器件老化子板夹具
  • 暗电流测试

    支持Vbr和暗电流测试
  • 响应度测试

    支持多波长下的响应度测试
  • 支持nA

    支持 nA 级别光电探测器暗电流测试
  • 温度范围广

    室温,50到100°C
  • 无EOS

    无EOS

系统指标

被测器件类型

所有TO-CAN封装器件

 

老化子板夹具类型

支持常规TO-CAN 8x8老化子板夹具

支持联讯仪器BI4201-PD老化系统子板夹具

支持COC封装和COB封装的老化板定制

测试机台控制

软件支持测试机台管控功能,如果相同夹具在老化前后分别在不同的测试机台进行测试,软件会自动产生告警提示。

测试配置管控

软件支持测试配置管控,包括测试仪表,测试算法,测试序列,测试结果判断等。

测试数据

支持用户要求的所有测试数据/支持MES相关的需求


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