特点
兼容常规
兼容常规TO-CAN器件老化子板夹具暗电流测试
支持Vbr和暗电流测试响应度测试
支持多波长下的响应度测试支持nA
支持 nA 级别光电探测器暗电流测试温度范围广
室温,50~100°C无EOS
无EOS
系统指标 |
被测器件类型 |
所有TO-CAN封装器件 |
夹具类型 |
标准8X8夹具 |
|
测试机台控制 |
软件支持测试机台管控功能,如果相同夹具在老化前后分别在不同的测试机台进行测试,软件会自动产生告警提示。 |
|
测试配置管控 |
软件支持测试配置管控,包括测试仪表,测试算法,测试序列,测试结果判断等。 |
|
测试数据 |
支持用户要求的所有测试数据/支持MES相关的需求 |
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