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探测器老化和测试

BI4201-PD

BI4201-PD APD TO老化系统能够提供高温条件的下APD/PIN带电老化系统。同时兼容APD TO和PIN TO的老化模式,广泛用于APD/PIN TO的生产老化环节以及产品可靠性测试。

特点

  • 独立老化不同产品

    每个温区可以独立老化不同产品
  • 监控老化

    监控老化电流,Vbr电压,TIA电流
  • 测试功能

    支持老化前后的暗电流和Vbr测试功能
  • 模式切换

    支持恒流和恒压的老化模式切换
  • 封装形式

    兼容APD TO、单APD 、PIN TIA TO、单PIN的封装,以及COC和COB封装形式
  • TO老化

    每个温区支持1536颗TO的老化,共支持3072颗TO的老化

功能与优势

  • 界面简洁易操作

    老化软件界面 APD 器件图形监控界面

系统功能

外形尺寸(mm)

1700L*950W*2000H

支持夹具类型

标准8X8夹具

系统支持TO数量

3072个

系统温区

独立两个温区

LD TO老化

LD老化,MPD监测,LIV扫描

 

软件功能

支持测试条件,测试算法,测试流程,测试结果判断标准编辑;支持权限管控。支持金样测试监控。支持机台名称监控。

管脚切换

支持不同器件软件管脚定义切换

MES系统接口

支持定制开发对接客户的MES系统和数据库

数据保存

测试原始数据、计算结果、系统运行详细日志的保存

系统供电

380V,11KW(满载)

温度控制

温度范围

常温到150℃


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