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联讯仪器 | CoC老化系统
发布日期:2022.11.30 访问量:613

半导体激光器是光收发模块核心器件,其稳定性直接影响模块的产品质量,CoC老化测试是一种有效的剔除早期CoC产品失效的筛选方法。联讯仪器CoC老化测试设备通过控制老化温度,老化电流,老化时长等测试条件,对老化前后的激光器功率变化,阈值变化等进行评估,将产品设计制造中的材料缺陷,加工缺陷等及早筛选出来,提高了进入后端工序的产品的可靠性!


  联讯仪器CoC老化



联讯仪器BI6201老化测试系统是高密度、多功能、专门针对半导体激光器芯片老化寿命验证的测试系统。


系统采用主框架和大单层的结构,通过集成多通道驱动电源、温度控制器、实时的数据采集功能,标准化的抽屉和灵活的夹具配置显著降低了系统成本。


定制化的测试夹具,适合不同尺寸的CoC(Chip on Carrier)、CoS(Chip on Submount)以及TO-CAN等各种封装类型的半导体激光器。


产品特点及优势


1容量大

满系统共11层,每层4个操作单元(小抽屉)

单系统最大支持4224pcs DFB CoC 同时老化,

产能基于客户需求做弹性配置



2配置灵活

针对不同的产品封装形式,提供灵活的夹具配置;

CoC封装推荐鱼骨型夹具,

可以支持CoC在鱼骨夹具上打金线;

不同的器件类型,

只需要更换不同抽屉(或者测试夹具)



3兼容TO抽屉式老化

与CoC老化兼容,仅需要更换TO夹具和小抽屉

不同管脚定义的TO,支持引脚定义切换

支持TO前光功率监控


4优异的温度控制结构

每个夹具具有独立的加热、控温、监控及散热单元


5强大的驱动电源

整个系统最高支持4224路4象限SMU驱动电源

支持自动电流控制模式

自动功率控制模式


6满足不同测试需求

支持在线监控功率

支持完整的LIV或者EA扫描

支持Ith、DC ER分析功能



7丰富的软件功能

老化过程中监控每个器件的状态信息

支持数据库数据存储及查询溯源测试结果

集成快速检查功能,

方便快捷地检查每台设备的信息


8完善的保护措施

无电流电压过冲

无EOS

电流和电压阈值保护

通道间绝缘(Isolation)与静电(ESD)保护


9规模化应用

广泛应用DFB/EML/DBR激光器的老化筛选



联讯CoC老化测试解决方案


联讯仪器提供CoC/CoS上下料,测试以及老化完整解决方案,适配不同测试温度要求,不同尺寸,不同类型半导体激光器,极大地提高了测试效率,降低了测试成本!



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