4x10G MBT3210-苏州联讯仪器股份有限公司

特点

速率范围宽
支持 350Mbps 到 15Gbps 标准测试速率
支持并行测试
四通道可各自独立也可四路同步测试
高速时钟输出
提供半速率时钟（高速）和分触发信号输出（低速）
内置时钟恢复
各个通道内置时钟数据恢复

功能与优势

协议	速率
Ethernet	1.25Gbps/2.5Gbps/9.953Gbps/10.3125Gbps
Fiber	4.25Gbps/8.5Gbps/14.025Gpbs
G.984.2	622Mbps/2.488Gbps
InfiniBand	2.5Gbps/5Gbps/14.0625Gbps
SONET/SDH	622Mbps/2.488Gbps/9.953Gbps/10.709Gpbs/11.096Gbps

覆盖速率范围广，支持多种协议

码型发生器技术指标	输出类型	差分	AC耦合；100Ω终端
		单端	AC耦合；50Ω终端
	输出幅度	100~1200mVpp	差分
	上升时间	30ps	20%~80%
	抖动	1.5ps	均方根（RMS）抖动
		9ps	峰峰值抖动
时钟通道	前面板提供半速率差分时钟和分频触发信号输出
误码探测通道	输入类型	差分/单端
	阻抗	100Ω
	输入幅度范围	800mVpp
	灵敏度	<100mV
	时钟模式	内置时钟恢复
	同步性	按等级，相位自动同步
	连接器	SMA，前面板
通用指标	工作	0°C至+55°C，30%至80%相对湿度无冷凝
	储存	-30°C至70°C，10%至90%相对湿度无冷凝
	海拔	工作高度：0m至2000m，储存高度：0m至4600m
	电源	AC100~240V，50~60Hz，250V最大值
	尺寸	44821483mm（带把手和脚垫）
	重量	净重5.0kg

同类推荐

光通讯仪表

光通信网络作为信息通信的基础设施，对我国大数据、云计算、5G通信等市场的快速发展起重要的承载支撑作用，联讯仪器光通讯仪表深度覆盖光模块光器件等核心产品的测试测量，包括采样示波器，误码仪，波长计，光谱仪，流量仪以及通用光测量仪表等，提供经济高效的完整解决方案。

Details

高精度源表

高精度源表集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛应用于各类分立元器件，光伏，新能源，电池等行业的高精度测试测量，联讯仪器提供高精度的台式源表及标准PXIe机箱的插卡式PXIe源表模块，充分满足各种不同测试场景的应用。

Details

光芯片测试

激光器的老化及测试是保障激光器可靠性的重要方法，通过对COC或者裸die的测试，提早筛选出激光器生产过程中由于工艺工序的缺陷导致的激光器早期失效。联讯仪器提供从裸die到COC，从高温到低温-40℃的完整解决方案。联讯仪器的激光芯片老化测试方案已获得市场广泛认可。

Details

半导体测试

半导体前道检测主要用于晶圆加工环节，目的是检查每一步制造工艺后晶圆产品的加工参数是否达到设计的要求或者存在影响良率的缺陷，半导体后道测试设备主要是用在晶圆加工之后、封装测试环节内，目的是检查芯片的性能是否符合要求，属于电性能的检测。联讯仪器提供晶圆老化及半导体参数测试机等集成解决方案，打破了国外企业的长期垄断，不断提升国产半导体设备的进口替代率。

Details

Site Map