半导体激光器是光收发模块核心器件，其稳定性直接影响模块的产品质量，CoC老化测试是一种有效的剔除早期CoC产品失效的筛选方法。联讯仪器CoC老化测试设备通过控制老化温度，老化电流，老化时长等测试条件，对老化前后的激光器功率变化，阈值变化等进行评估，将产品设计制造中的材料缺陷，加工缺陷等及早筛选出来，提高了进入后端工序的产品的可靠性！

  联讯仪器CoC老化

联讯仪器BI6201老化测试系统是高密度、多功能、专门针对半导体激光器芯片老化寿命验证的测试系统。

系统采用主框架和大单层的结构，通过集成多通道驱动电源、温度控制器、实时的数据采集功能，标准化的抽屉和灵活的夹具配置显著降低了系统成本。

定制化的测试夹具，适合不同尺寸的CoC（Chip on Carrier）、CoS（Chip on Submount）以及TO-CAN等各种封装类型的半导体激光器。

产品特点及优势

1容量大

满系统共11层，每层4个操作单元（小抽屉）

单系统最大支持4224pcs DFB CoC 同时老化，

产能基于客户需求做弹性配置

2配置灵活

针对不同的产品封装形式，提供灵活的夹具配置；

CoC封装推荐鱼骨型夹具，

可以支持CoC在鱼骨夹具上打金线；

不同的器件类型，

只需要更换不同抽屉（或者测试夹具）

3兼容TO抽屉式老化

与CoC老化兼容，仅需要更换TO夹具和小抽屉

不同管脚定义的TO，支持引脚定义切换

支持TO前光功率监控

4优异的温度控制结构

每个夹具具有独立的加热、控温、监控及散热单元

5强大的驱动电源

整个系统最高支持4224路4象限SMU驱动电源

支持自动电流控制模式

自动功率控制模式

6满足不同测试需求

支持在线监控功率

支持完整的LIV或者EA扫描

支持Ith、DC ER分析功能

7丰富的软件功能

老化过程中监控每个器件的状态信息

支持数据库数据存储及查询溯源测试结果

集成快速检查功能，

方便快捷地检查每台设备的信息

8完善的保护措施

无电流电压过冲

无EOS

电流和电压阈值保护

通道间绝缘（Isolation）与静电（ESD）保护

9规模化应用

广泛应用DFB/EML/DBR激光器的老化筛选

联讯CoC老化测试解决方案

联讯仪器提供CoC/CoS上下料，测试以及老化完整解决方案，适配不同测试温度要求，不同尺寸，不同类型半导体激光器，极大地提高了测试效率，降低了测试成本！